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影響漆膜儀測量精度的原因是什么

更新時(shí)間:2019-10-28      點(diǎn)擊次數(shù):1906
   影響漆膜儀測量精度的原因是什么
  1.邊界間距如果探頭與被測體邊界、孔眼、空腔、其他截面變化處的間距小于規(guī)定的邊界間距,由于磁通或渦流載體截面不夠?qū)?dǎo)致測量誤差。如必須測量該點(diǎn)的覆層厚度,只有預(yù)先在相同條件的無覆層表面進(jìn)行校準(zhǔn),才能測量。(注:新的產(chǎn)品有透過覆層校準(zhǔn)的*功能可達(dá)3~10%的精度)
  2.基體表面曲率在一個(gè)平直的對比試樣上校準(zhǔn)好一個(gè)初始值,然后在測量覆層厚度后減去這個(gè)初始值。或參照下條。
  3.基體金屬小厚度基體金屬必須有一個(gè)給定的小厚度,使探頭的電磁場能*包容在基體金屬中,小厚度與測量器的性能及金屬基體的性質(zhì)有關(guān),在這個(gè)厚度之上剛好可以進(jìn)行測量而不用對測量值修正。對于基體厚度不夠而產(chǎn)生的影響,可以采取在基材下面緊貼一塊相同材料的措施予以消除。如難以決斷,或無法加基材則可以通過與已知覆層厚度的試樣進(jìn)行對比來確定與額定值的差值。并且在測量中考慮這點(diǎn)而對測量值作相應(yīng)的修正或參考第2條修正。而那些可以標(biāo)定的儀器通過調(diào)整旋鈕或按鍵,便可以得到準(zhǔn)確的直讀厚度值。反之利用厚度太小產(chǎn)生的影響又可以研制直接測銅箔厚度的測厚儀,如前所述。
  4.表面粗糙度和表面清潔度在粗糙度表面上為獲得一個(gè)有代表性的平均測量值必須進(jìn)行多次測量才行。顯而易見,不論是基體或是覆層,越粗糙,測量值越不可靠。為獲得可靠的數(shù)據(jù),基體的平均粗糙度Ra應(yīng)小于覆層厚度的5%。而對于表面雜質(zhì),則應(yīng)予去除。有的儀表上下限,以剔除那些“飛點(diǎn)”。
  5.探頭測量板的作用力探頭測量時(shí)的作用力應(yīng)是恒定的。并應(yīng)盡可能小。才不致使軟的覆層發(fā)生形變,以致測量值下降。活產(chǎn)生大的波動(dòng),必要時(shí),可在兩者之間墊一層硬的,不導(dǎo)電的,具有一定厚度的硬性薄膜。這樣通過減去薄膜厚度就能適當(dāng)?shù)氐玫绞4拧?/div>
  6.外界恒磁場、電磁場和基體剩磁應(yīng)該避免在有干擾作用的外界磁場附近進(jìn)行測量。殘存的剩磁,根據(jù)檢測器的性能可能導(dǎo)致或多或少的測量誤差,但是如結(jié)構(gòu)鋼,深沖成形鋼板等一般不會(huì)出現(xiàn)上述現(xiàn)象。
  7.覆層材料中的鐵磁成份和導(dǎo)電成份覆層中存在某些鐵磁成分,如某種顏料時(shí),會(huì)對測量值產(chǎn)生影響,在這種情況下,對用作校準(zhǔn)的對比試樣覆層應(yīng)具有與被測物覆層相同的電磁特性,經(jīng)校準(zhǔn)后使用。使用的方法可以是將同樣的覆層涂在鋁或銅板試樣上,用電渦流法測試后獲得對比標(biāo)準(zhǔn)試樣。

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